Sensolytics Inverted Microscope Upgrade for SECM - Mounting Kit for Inverted Optical Microscopes Sensolytics Inverted Microscope Upgrade alternate view
Sensolytics SECM Systeme

Erweiterung zur Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop

Integration des SECM-Systems in ein inverses optisches Mikroskop zur gleichzeitigen Durchführung elektrochemischer Messungen und zur hochwertigen Bildgebung von biologischen Grenzflächen, lebenden Zellen und mikrostrukturierten Proben.

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Das inverse Mikroskop Upgrade ermöglicht die Kombination des Sensolytics SECM-Positioniersystems mit einem inversen optischen Mikroskop (z.B. Zeiss Axiovert 5, Leica DMi 8) für elektrochemische Messungen mit gleichzeitiger optischer Beobachtung an transparenten Proben. Dabei eignet sich die Konfiguration besonders für die Untersuchung von biologischen Grenzflächen, lebenden Zellen, Biofilmen und mikrostrukturierten Oberflächen.

Das Erweiterungsset besteht aus passenden Adapterplatten zur reversiblen Montage des SECM-Positioniersystems auf dem Stativ des inversen optischen Mikroskops. Dadurch kann das SECM sowohl in der kombinierten Konfiguration als auch als eigenständiges System auf der Standardbasisplatte verwendet werden. Ein spezifisch angepasster Elektrodenhalter ermöglicht die Positionierung der Sonde innerhalb der optischen Achse und der Strahlengang bleibt frei.

Das inverse Mikroskop Upgrade ist auf die Integration von Zeiss Axiovert 5 und Leica DMi8 Mikroskopen ausgelegt, kann jedoch an unterschiedliche optische Plattformen angepasst werden. Gerne prüfen wir die Kompatibilität mit Mikroskopen anderer Hersteller, einschließlich älterer und nicht mehr hergestellter Modelle. Bitte kontaktieren Sie uns, um Ihre individuelle Konfiguration zu besprechen.

Dieses Upgrade kann zu jeder Zeit nachgerüstet werden und ist kompatibel mit weiteren SECM-Modulen wie z.B. der Option High-Res und Shearforce, wodurch die Flexibilität zur Anpassung des SECM-Systems an Ihre individuellen Anforderungen erhalten bleibt.

Die Leistung des kombinierten Systems wird durch die gewählte SECM-Konfiguration sowie die Ausstattung des optischen Mikroskops bestimmt.

Detaillierte Spezifikationen für die optischen Mikroskopieplattformen finden Sie hier:

Zeiss Axiovert 5 ↗ Leica DMi8 ↗

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Häufige Fragen

Für die Plattformen Zeiss Axiovert 5 und Leica DMi8 ist die Erweiterung als Standardkonfiguration verfügbar. Die Integration in andere inverse Mikroskope ist grundsätzlich möglich, hängt jedoch vom Aufbau des Mikroskopstativs sowie dem Abstand sowie dem Zugang zur optischen Achse ab. Bitte kontaktieren Sie uns, um die Kompatibilität mit Ihrem Mikroskopmodell zu prüfen.

Ja. Es besteht die Möglichkeit, das SECM-Positioniersystem vom inversen Mikroskopkörper abzunehmen und auf eine Standardbasisplatte zu montieren. Die Integration in das optische Mikroskop ist daher vollständig reversibel und benötigt keine permanenten Veränderungen, sodass ein einfacher Wechsel zwischen beiden Betriebsweisen möglich ist.

Nein. Die elektrochemische Leistungsfähigkeit sowie die Auflösung werden durch die Konfiguration des SECM-Systems selbst bestimmt. Wie für klassische SECM-Experimente, haben hier u.a. die Größe der eingesetzten Sonden, das verwendete Positioniersystem sowie der Detektionsmodus einen maßgeblichen Einfluss. Die Integration des Mikroskops ermöglicht daher zwar den optischen Zugang für die Probenbeobachtung, verändert jedoch nicht die intrinsischen Eigenschaften des SECM-Systems.

Zur Integration der SECM-Komponenten in das inverse Mikroskop wird der Kondensorarm des optischen Mikroskops entfernt. Diese Modifikation beeinträchtigt weder die SECM-Leistung noch die Positioniergenauigkeit. Auch das optische Mikroskop steht weiterhin für eine hochwertige Probenbeobachtung, Ausrichtung und Positionierung der Sonde relativ zu spezifischen Probenarealen zur Verfügung. Lediglich eine Durchlichtbeleuchtung unter Verwendung des Kondensors, kann im kombinierten Aufbau nicht benutzt werden, da der Kondensorarm fehlt. Die Beleuchtung der Probe erfolgt im kombinierten Aufbau über eine externe zusätzliche Lichtquelle, wie beispielsweise eine Schwanenhalslichtquelle.

Nein. Die optische Kontrolle unterstützt die Vorpositionierung und die Auswahl des zu untersuchenden Probenbereichs. Gleichzeitig können Proben mit hoher optischer Auflösung während des SECM-Experiments beobachtet werden. Eine quantitative Kontrolle des Sonden-Substrat-Abstands ist auf diesem Weg jedoch nicht möglich. Um eine präzise Kontrolle des Arbeitsabstands in der SECM zu erreichen, können neben elektrochemischen Signalen (z.B. Annäherungskurven im amperometrischen Feedback-Modus) auch scherkraftbasierte Methoden eingesetzt werden, die die Position der Sonde relativ zur Oberfläche mit einer Genauigkeit im Mikrometer- bis Nanometerbereich bestimmen.