Option Shearforce
Artikel-Nr. 03-00003
Um topographische und elektrochemische Informationen präzise zu trennen, bietet diese Option die Möglichkeit, den Abstand der Elektrode zur Probe zu regeln. Die Elektrode wird dabei mittels eines ausgeklügelten Rückkopplungsmechanismus in einem konstanten Abstand von 50 bis 300 nm über der Probenoberfläche gehalten. Geeignet für Strukturabmessungen < 1 µm, abhängig von der Option High-Res